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一种用于植球芯片检测的垂直探针卡制造技术
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下载一种用于植球芯片检测的垂直探针卡的技术资料
文档序号:23180104
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本实用新型涉及芯片检测技术领域,公开了一种用于植球芯片检测的垂直探针卡,包括电路板,电路板的中心设有避让孔,电路板的顶面位于避让孔的上端设有上定位座,上定位座的外侧设有压套,电路板的底面位于避让孔的下端设有下定位座,下定位座的边缘与压套之间...
该专利属于普铄电子(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过普铄电子(上海)有限公司授权不得商用。
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