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本发明公开了一种测试向量的无损压缩方法，包括如下步骤：S01：将测试向量转换为A行B列的数据流，所述数据流采用二进制表示；S02：依次对数据流进行逐列压缩，形成每一列数据对应的压缩字和非压缩字；具体对每一列数据进行压缩方法为：设置宽度为1b...
该专利属于上海御渡半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海御渡半导体科技有限公司授权不得商用。

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