【技术实现步骤摘要】
一种测试向量的无损压缩和解压缩方法
本专利技术涉及数据压缩和解压缩领域，具体涉及一种测试向量的无损压缩和解压缩方法。
技术介绍
现有技术中数据压缩包括有损压缩和无损压缩；有损压缩是利用了人类对图像或声波中的某些频率成分不敏感的特性，允许压缩过程中损失一定的信息；虽然不能完全恢复原始数据，但是所损失的部分对理解原始图像的影响缩小，却换来了大得多的压缩比。无损压缩是对文件本身的压缩，和其它数据文件的压缩一样，是对文件的数据存储方式进行优化，采用某种算法表示重复的数据信息，文件可以完全还原，不会影响文件内容，对于数码图像而言，也就不会使图像细节有任何损失。在ATE(AutomaticTestEquipment)测试领域，被压缩的数据是芯片测试向量，必须无损压缩，而当前主流的无损压缩算法为LZ77系列，采用的是哈夫曼编码技术，需要使用字典进行压缩解压缩，可以达到极高的压缩效果。适合在CPU上实现，但是不便于在FPGA、ASIC(ApplicationSpecificIntegratedCircuit)上实现。...
【技术保护点】
1.一种测试向量的无损压缩方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS01：将测试向量转换为A行B列的数据流，所述数据流采用二进制表示；其中每一列表示一个测试通道在不同时刻的测试数据；每一行表示不同测试通道在同一时刻的测试数据；A和B为大于1的整数；/nS02：依次对数据流进行逐列压缩，形成每一列数据对应的压缩字和非压缩字；具体对每一列数据进行压缩方法为：/nS021：设置宽度为1bit深度为M行的窗口，将窗口从该列数据的顶部开始逐行向下滑行，当窗口中添加M-1bit数据时，/n若M-1bit数据中既有0又有1，则不进行压缩，形成Mbit的非压缩字，其中，所述非压缩字中第M-1b...
【技术特征摘要】
1.一种测试向量的无损压缩方法，其特征在于，包括如下步骤：
S01：将测试向量转换为A行B列的数据流，所述数据流采用二进制表示；其中每一列表示一个测试通道在不同时刻的测试数据；每一行表示不同测试通道在同一时刻的测试数据；A和B为大于1的整数；
S02：依次对数据流进行逐列压缩，形成每一列数据对应的压缩字和非压缩字；具体对每一列数据进行压缩方法为：
S021：设置宽度为1bit深度为M行的窗口，将窗口从该列数据的顶部开始逐行向下滑行，当窗口中添加M-1bit数据时，
若M-1bit数据中既有0又有1，则不进行压缩，形成Mbit的非压缩字，其中，所述非压缩字中第M-1bit表示压缩标记，第M-2至第0bit表示窗口中对应的M-1bit数据；
若M-1bit数据中只有0或者1，则进行压缩，并且窗口继续逐行向下滑行，直至窗口中最新添加数据与窗口中其他行数据不同或者滑行至该列底部，形成Mbit的压缩字，其中，所述压缩字中第M-1bit表示压缩标记，第M-2bit表示压缩字符，第M-3至第1bit表示M-1bit数据中压缩字符的个数cnt；第0bit表示窗口中最新添加数据的尾数；
S022：形成压缩字或者非压缩字之后，所述窗口滑行至该列数据中未处理的行位置，重复步骤S021，直至窗口滑行至该列数据的底部，得到该列数据的压缩数据；M为大于2小于A的正整数；
S03：将每一列数据的压缩数据进行汇合，形成压缩数据流。
2.根据权利要求1所述的一种测试向量的无损压缩方法，其特征在于，所述步骤S01和步骤S02之间还包括：将A行B列的数据流分割为N个切片，所述切片包括A/N行B列的数据流，所述步骤S02中将N个切片在N个压缩单元中分别进行压缩，得到N个压缩数据模块；A/N为大于M的正整数。
3.根据权利要求2所述的一种测试向量的无损压缩方法，其特征在于，所述步骤S03将N个压缩数据模块按照切片的顺序进行排列，且相邻的切片对应的压缩数据模块通过插入标记隔开。
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【专利技术属性】
技术研发人员：陈廷，
申请(专利权)人：上海御渡半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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