温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种基于相推法的光器件时延测量方法，预先根据测量需求确定扫频频率范围并在其中选取多个扫频频点；在每一个扫频频点，用该频率的微波调制信号对光载波进行调制，并通过鉴相器测量出调制光信号经过待测光器件前后微波调制信号的相位变化；对所测...该专利属于南京航空航天大学;苏州六幺四信息科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京航空航天大学;苏州六幺四信息科技有限责任公司授权不得商用。