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一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法，属于计算机体系结构处理器技术领域。方法包括定义IO寄存器读写测试用的父类；在部件级或芯片级的IO接口上，实现继承上述父类的测试子类。本发明不用重复开发同一IO寄存器在不同测试环境下的测试激励，显...
该专利属于无锡江南计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过无锡江南计算技术研究所授权不得商用。

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