一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法技术

技术编号:23148902 阅读:28 留言:0更新日期:2020-01-18 13:24
一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法,属于计算机体系结构处理器技术领域。方法包括定义IO寄存器读写测试用的父类;在部件级或芯片级的IO接口上,实现继承上述父类的测试子类。本发明专利技术不用重复开发同一IO寄存器在不同测试环境下的测试激励,显著减少测试激励开发总量,加快了IO寄存器相关的错误收敛速度,压缩了处理器验证周期。测试激励可继承性良好,易用性增强。

【技术实现步骤摘要】
一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法
本专利技术属于计算机体系结构处理器
,具体涉及一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法。
技术介绍
IO寄存器是高性能处理器中非常重要的组成部分,是上层软件充分发挥处理器功能与性能所要调用的基本内容。配置以及访问IO寄存器也是硬件调试人员了解处理器运行状态以及调试错误现场的主要手段,所以IO寄存器测试是处理器模拟验证的主要工作之一。目前主流高性能处理器中IO寄存器的数量庞大,分散在处理器中各个模块中,所以此时,常规方法仍有几个问题难以解决。第一个问题在于,为了处理器的易用性与灵活性,IO空间一般比较庞大,IO寄存器的数量很多,由于既需要寄存器初始状态的测试激励,又要运行过程中的读写测试;另外寄存器属性既有只读的,也有只写的,还有可读写的,所以测试激励开发数量很大。第二个问题在于,由于处理器开发是分模块开发后进行集成的,所以对于同一个模块内的IO寄存器在环境开发的各个阶段都需要开发相应的测试激励,在各种验证环境下进行测试的,所以开发周期特别长,而其部分测试激励进行了重复开发。第三个问本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法,其特征在于,包括:/n定义IO寄存器读写测试用的父类;/n在部件级或芯片级的IO接口上,实现继承上述父类的测试子类。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法,其特征在于,包括:
定义IO寄存器读写测试用的父类;
在部件级或芯片级的IO接口上,实现继承上述父类的测试子类。


2.根据权利要求1所述的一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法,其特征在于,所述定义IO寄存器读写测试用的父类的步骤包括:
配置寄存器的地址和内容的位宽;
定义IO寄存器读函数、写函数、数据比较函数。


3.根据权利要求1所述的一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法,其特征在于,所述定义IO寄存器读写测试用的父类的步骤还包括:定义IO寄存器初值函数。


4.根据权利要求1所述的一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法,其特征在于,所述定义IO寄存器读写测试用的父类的步骤还包括:定义IO寄存器加强测试函数,用于对已测试过的可读写属性寄存器构成的测试列表,进行先全写再全读测试。


5.根据权利要求1所述的一种用于处理器IO寄存器测试激励的可重用方法,其特征在于,所述定义IO寄存器读写测试用的父类的步骤还包括:根据用户需要设定最大的读写寄存器次数。


6.根据权利要求1所述的一种用于处理器IO寄存器测试激励...

【专利技术属性】
技术研发人员:菅陆田谢军朱巍宁永波李峰吴珊刘佳季
申请(专利权)人:无锡江南计算技术研究所
类型:发明
国别省市:江苏;32

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