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本发明涉及一种用于X射线荧光分析装置，包括X射线源(10)，用来利用X射束(19)辐照试样(15)；X射线探测器(17)，用于测量由所述试样(15)发出的X射线荧光辐射(16)；以及摄像机(25)，用于经由光学镜(20)产生试样(15)的被...该专利属于赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所授权不得商用。