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本发明提供了一种芯片测试治具，包括：底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片安装槽配合，用于压紧测试芯片；按压件，...
该专利属于环维电子(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过环维电子(上海)有限公司授权不得商用。

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