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一种晶圆测试卡及晶圆测试方法，其中晶圆测试卡，用于检测待测晶圆，所述待测晶圆内具有像素器件，包括：基板，所述基板包括第一区和第二区，且所述第二区包围所述第一区，所述第二区包括逻辑区；位于所述第一区表面的若干探针；位于所述逻辑区内的逻辑器件，...
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