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本申请公开了一种半导体测试装置，在半导体产品低温测试时，测试头的温度会比较低，由于测试环境空气中的湿度，在测试头表面及周围会形成冷凝水，冷凝水会导致设备内部电器元件发生短路；本发明包通过设置进气管、连通所述进气管的测试头保护罩和隔离罩，通过...
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