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一种上电断电测试器结构制造技术
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文档序号:22961090
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本实用新型公开了一种上电断电测试器结构,包括MCU处理芯片、2个按键、继电器以及数码显示管,所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器以及所述数码显示管连接,所述MCU处理芯片还与电源连接。本实用新型可以在电容放电的任何时间随机控制被...
该专利属于深圳市创荣发电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市创荣发电子有限公司授权不得商用。
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