一种上电断电测试器结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种上电断电测试器结构，包括MCU处理芯片、2个按键、继电器以及数码显示管，所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器以及所述数码显示管连接，所述MCU处理芯片还与电源连接。本实用新型专利技术可以在电容放电的任何时间随机控制被测试产品上电和断电，可以使产品上电放电得到全方位的测试，也与产品实际应用场景相符，本实用新型专利技术结构简单，操作方便，测试效果好。

A structure of power on and power off tester

【技术实现步骤摘要】
一种上电断电测试器结构
本技术涉及测试器
，具体的说，是涉及一种上电断电测试器结构。
技术介绍
在现有技术中，由于很多被测电子产品内部电路中都包含有电容，而电容大小不相同，导致产品在断电后部分电容放电时间不确定，而电容的放电延迟导致定时上下电会掩盖一些电路上的缺陷问题，无法发现电路存在的隐患。当前电子产品的上电及断电测试器存在着由于电容放电时间不确定而导致产品不能及时发现隐患的技术缺陷，成为本领域技术人员急待解决的技术问题。上述缺陷，值得改进。
技术实现思路
为了克服现有的技术的不足，本技术提供一种上电断电测试器结构。本技术技术方案如下所述：一种上电断电测试器结构，包括MCU处理芯片、2个按键、继电器以及数码显示管，所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器以及所述数码显示管连接，所述MCU处理芯片还与电源连接。进一步的，所述MCU处理芯片还与天线连接。进一步的，所述MCU处理芯片为STM8S003F3芯片。进一步的，所述MCU处理芯片包括PA1引脚、PA2本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种上电断电测试器结构，其特征在于，包括MCU处理芯片、2个按键、继电器以及数码显示管，所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器以及所述数码显示管连接，所述MCU处理芯片还与电源连接；所述MCU处理芯片还与天线连接；所述MCU处理芯片为STM8S003F3芯片；所述MCU处理芯片包括PA1引脚、PA2引脚、VSS引脚、VDD引脚、PA3引脚、PB5引脚、PB4引脚、PC3引脚、PC4引脚、PC5引脚、PC6引脚、PC7引脚、PD1引脚、PD2引脚、PD3引脚、PD4引脚、PD5引脚以及PD6引脚，/n所述数码显示管设置有第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第...

【技术特征摘要】
1.一种上电断电测试器结构，其特征在于，包括MCU处理芯片、2个按键、继电器以及数码显示管，所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器以及所述数码显示管连接，所述MCU处理芯片还与电源连接；所述MCU处理芯片还与天线连接；所述MCU处理芯片为STM8S003F3芯片；所述MCU处理芯片包括PA1引脚、PA2引脚、VSS引脚、VDD引脚、PA3引脚、PB5引脚、PB4引脚、PC3引脚、PC4引脚、PC5引脚、PC6引脚、PC7引脚、PD1引脚、PD2引脚、PD3引脚、PD4引脚、PD5引脚以及PD6引脚，
所述数码显示管设置有第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第七引线、第八引线、第九引线、第十引线、第十一引线以及第十二引线，
所述第一引线与所述PA2引脚连接，所述第二引线与所述PA1引脚连接，所述第三引线与所述PC6引脚连接，所述第四引线与所述PC5引脚连接，所述第五引线与所述PC4引脚连接，所述第六引线与所述PC3引脚连接，
所述第八引线经过电阻R5与所述PD2引脚连接，所述第九引线经过电阻R6与...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷军平，
申请(专利权)人：深圳市创荣发电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44