一种上电断电测试器结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种上电断电测试器结构，包括MCU处理芯片、2个按键、继电器以及数码显示管，所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器以及所述数码显示管连接，所述MCU处理芯片还与电源连接。本实用新型专利技术可以在电容放电的任何时间随机控制被测试产品上电和断电，可以使产品上电放电得到全方位的测试，也与产品实际应用场景相符，本实用新型专利技术结构简单，操作方便，测试效果好。

A structure of power on and power off tester

【技术实现步骤摘要】
一种上电断电测试器结构
本技术涉及测试器
，具体的说，是涉及一种上电断电测试器结构。
技术介绍
在现有技术中，由于很多被测电子产品内部电路中都包含有电容，而电容大小不相同，导致产品在断电后部分电容放电时间不确定，而电容的放电延迟导致定时上下电会掩盖一些电路上的缺陷问题，无法发现电路存在的隐患。当前电子产品的上电及断电测试器存在着由于电容放电时间不确定而导致产品不能及时发现隐患的技术缺陷，成为本领域技术人员急待解决的技术问题。上述缺陷，值得改进。
技术实现思路
为了克服现有的技术的不足，本技术提供一种上电断电测试器结构。本技术技术方案如下所述：一种上电断电测试器结构，包括MCU处理芯片、2个按键、继电器以及数码显示管，所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器以及所述数码显示管连接，所述MCU处理芯片还与电源连接。进一步的，所述MCU处理芯片还与天线连接。进一步的，所述MCU处理芯片为STM8S003F3芯片。进一步的，所述MCU处理芯片包括PA1引脚、PA2引脚、VSS引脚、VDD引脚、PA3引脚、PB5引脚、PB4引脚、PC3引脚、PC4引脚、PC5引脚、PC6引脚、PC7引脚、PD1引脚、PD2引脚、PD3引脚、PD4引脚、PD5引脚以及PD6引脚，所述数码显示管设置有第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第七引线、第八引线、第九引线、第十引线、第十一引线以及第十二引线，所述第一引线与所述PA2引脚连接，所述第二引线与所述PA1引脚连接，所述第三引线与所述PC6引脚连接，所述第四引线与所述PC5引脚连接，所述第五引线与所述PC4引脚连接，所述第六引线与所述PC3引脚连接，所述第八引线经过电阻R5与所述PD2引脚连接，所述第九引线经过电阻R6与所述PD1引脚连接、所述第十引线经过电阻R7与所述PC7引脚连接、所述第十一引线经过电阻R8与所述PC6引脚连接，所述第十二引线经过电阻R9与所述PC5引脚连接，所述PC4引脚与第一按键S1一端连接，所述PB4引脚与第二按键S3一端连接，第一按键S1一端与第二按键S3一端接地线接地端GND，所述PA3引脚经过电阻R4与三极管Q1的基极连接，三极管的发射极经过电阻R3与电源电压VCC连接，三极管的集电极经过继电器K1与地线接地端GND连接，继电器K1与排针J2连接。所述VDD引脚分别与电容C3一端、电阻R2一端以及稳压器U2的输出端Vout连接，稳压器U2的输入端Vin分别与电源VCC、电容C2一端、电容C1一端以及排针J1第二引线连接，稳压器U2的GND端分别与电阻R2另一端以及电阻R1一端连接，电容C1另一端、电容C2另一端、电容C2另一端以及电阻R1另一端接地线接地端GND，排针J1第一引线接地线接地端GND。进一步的，所述PC4引脚与所述天线连接。根据上述方案的本技术，其有益效果在于，上电与断电时间是随机的，其中最大值为10S，本技术可以在电容放电的任何时间随机控制被测试产品上电和断电，可以使产品上电放电得到全方位的测试，也与产品实际应用场景相符，本技术结构简单，操作方便，测试效果好。附图说明图1为本技术的结构示意图。图2为本技术的电路结构示意图。具体实施方式下面结合附图以及实施方式对本技术进行进一步的描述：如图1-2所示，一种上电断电测试器结构，其特征在于，包括MCU处理芯片、2个按键、继电器、电源、天线以及数码显示管，所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器、所述电源、所述天线以及所述数码显示管连接。所述MCU处理芯片优选为STM8S003F3芯片。所述数码显示管优选为显示5位数的LED数码显示管。所述STM8S003F3芯片包括PA1引脚、PA2引脚、VSS引脚、VDD引脚、PA3引脚、PB5引脚、PB4引脚、PC3引脚、PC4引脚、PC5引脚、PC6引脚、PC7引脚、PD1引脚、PD2引脚、PD3引脚、PD4引脚、PD5引脚以及PD6引脚，所述数码显示管设置有第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第七引线、第八引线、第九引线、第十引线、第十一引线以及第十二引线，所述第一引线与所述PA2引脚连接，所述第二引线与所述PA1引脚连接，所述第三引线与所述PC6引脚连接，所述第四引线与所述PC5引脚连接，所述第五引线与所述PC4引脚连接，所述第六引线与所述PC3引脚连接，所述第八引线经过电阻R5与所述PD2引脚连接，所述第九引线经过电阻R6与所述PD1引脚连接、所述第十引线经过电阻R7与所述PC7引脚连接、所述第十一引线经过电阻R8与所述PC6引脚连接，所述第十二引线经过电阻R9与所述PC5引脚连接，所述PC4引脚与第一按键S1一端连接，所述PB4引脚与第二按键S3一端连接，第一按键S1一端与第二按键S3一端接地线接地端GND，所述PA3引脚经过电阻R4与三极管Q1的基极连接，三极管的发射极经过电阻R3与电源电压VCC连接，三极管的集电极经过继电器K1与地线接地端GND连接，继电器K1与排针J2连接。所述VDD引脚分别与电容C3一端、电阻R2一端以及稳压器U2的输出端Vout连接，稳压器U2的输入端Vin分别与电源VCC、电容C2一端、电容C1一端以及排针J1第二引线连接，稳压器U2的GND端分别与电阻R2另一端以及电阻R1一端连接，电容C1另一端、电容C2另一端、电容C2另一端以及电阻R1另一端接地线接地端GND，排针J1第一引线接地线接地端GND。所述PC4引脚与所述天线连接。在本技术中，MCU处理芯片采用STM8S003F3芯片，由两个按键、5位LED数码显示管和继电器组成；在MCU的ADC引脚增加了天线，使干扰信号通过天线，使ADC引脚的电平有所波动，从而影响ADC采集电压值的随机变化，从而利用ADC值为种子，产生随机数，该随机数的设置最大值为10S，最小为0.1S,即在0.1S与10S内随机变化；用此随机值设置开启与关闭继电器的时间；当被测试设备的电源接入继电器后，可以通过继电器控制被测试设备电源随机开启与关闭；而开关次数可以通过LED数码显示管进行显示；也可通过按键进行设置固定的开断时间，完全可根据客户需求进行设置。本技术上电与断电时间是随机的，其中最大值为10S，本技术可以在电容放电的任何时间随机控制被测试产品上电和断电，可以使产品上电放电得到全方位的测试，也与产品实际应用场景相符，本技术结构简单，操作方便，测试效果好。应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本技术所附权利要求的保护范围。上面结合附图对本技术专利进行了示例性的描述，显然本技术专利的实现并不受上述方式的限制，只要采用了本技术专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种上电断电测试器结构，其特征在于，包括MCU处理芯片、2个按键、继电器以及数码显示管，所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器以及所述数码显示管连接，所述MCU处理芯片还与电源连接；所述MCU处理芯片还与天线连接；所述MCU处理芯片为STM8S003F3芯片；所述MCU处理芯片包括PA1引脚、PA2引脚、VSS引脚、VDD引脚、PA3引脚、PB5引脚、PB4引脚、PC3引脚、PC4引脚、PC5引脚、PC6引脚、PC7引脚、PD1引脚、PD2引脚、PD3引脚、PD4引脚、PD5引脚以及PD6引脚，/n所述数码显示管设置有第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第七引线、第八引线、第九引线、第十引线、第十一引线以及第十二引线，/n所述第一引线与所述PA2引脚连接，所述第二引线与所述PA1引脚连接，所述第三引线与所述PC6引脚连接，所述第四引线与所述PC5引脚连接，所述第五引线与所述PC4引脚连接，所述第六引线与所述PC3引脚连接，/n所述第八引线经过电阻R5与所述PD2引脚连接，所述第九引线经过电阻R6与所述PD1引脚连接、所述第十引线经过电阻R7与所述PC7引脚连接、所述第十一引线经过电阻R8与所述PC6引脚连接，所述第十二引线经过电阻R9与所述PC5引脚连接，/n所述PC4引脚与第一按键S1一端连接，所述PB4引脚与第二按键S3一端连接，第一按键S1一端与第二按键S3一端接地线接地端GND，/n所述PA3引脚经过电阻R4与三极管Q1的基极连接，三极管的发射极经过电阻R3与电源电压VCC连接，三极管的集电极经过继电器K1与地线接地端GND连接，继电器K1与排针J2连接，/n所述VDD引脚分别与电容C3一端、电阻R2一端以及稳压器U2的输出端Vout连接，稳压器U2的输入端Vin分别与电源VCC、电容C2一端、电容C1一端以及排针J1第二引线连接，稳压器U2的GND端分别与电阻R2另一端以及电阻R1一端连接，电容C1另一端、电容C2另一端、电容C2另一端以及电阻R1另一端接地线接地端GND，排针J1第一引线接地线接地端GND。/n...

【技术特征摘要】
1.一种上电断电测试器结构，其特征在于，包括MCU处理芯片、2个按键、继电器以及数码显示管，所述MCU处理芯片分别与2个所述按键、所述继电器以及所述数码显示管连接，所述MCU处理芯片还与电源连接；所述MCU处理芯片还与天线连接；所述MCU处理芯片为STM8S003F3芯片；所述MCU处理芯片包括PA1引脚、PA2引脚、VSS引脚、VDD引脚、PA3引脚、PB5引脚、PB4引脚、PC3引脚、PC4引脚、PC5引脚、PC6引脚、PC7引脚、PD1引脚、PD2引脚、PD3引脚、PD4引脚、PD5引脚以及PD6引脚，
所述数码显示管设置有第一引线、第二引线、第三引线、第四引线、第五引线、第六引线、第七引线、第八引线、第九引线、第十引线、第十一引线以及第十二引线，
所述第一引线与所述PA2引脚连接，所述第二引线与所述PA1引脚连接，所述第三引线与所述PC6引脚连接，所述第四引线与所述PC5引脚连接，所述第五引线与所述PC4引脚连接，所述第六引线与所述PC3引脚连接，
所述第八引线经过电阻R5与所述PD2引脚连接，所述第九引线经过电阻R6与...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷军平，
申请(专利权)人：深圳市创荣发电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44