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描述了一种用于测量通过被测器件(32)的不规则表面的衰减的测量装置(10)。测量装置(10)包括定位系统(14)、具有一组漫散射构件(26)的参考反射器(22)、以及三维成像系统(12)。测量装置(10)具有参考状态和测量状态，其中在不同状...该专利属于罗德施瓦兹两合股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过罗德施瓦兹两合股份有限公司授权不得商用。
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描述了一种用于测量通过被测器件(32)的不规则表面的衰减的测量装置(10)。测量装置(10)包括定位系统(14)、具有一组漫散射构件(26)的参考反射器(22)、以及三维成像系统(12)。测量装置(10)具有参考状态和测量状态，其中在不同状...