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用于改善IGBT模块子单元焊接破损的结构制造技术
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下载用于改善IGBT模块子单元焊接破损的结构的技术资料
文档序号:22906266
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本实用新型属于IGBT模块封装制造技术领域,涉及用于改善IGBT模块子单元焊接破损的结构,包括:结构本体、设置于所述结构本体上的子单元放置区,所述结构本体的侧边设置有可移动的定位装置;通过增加可移动的定位装置的设计,在子单元焊接完成后,当拿...
该专利属于西安中车永电电气有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过西安中车永电电气有限公司授权不得商用。
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