专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
武汉大学
>
一种成分投影优化分离的高光谱异常探测方法技术
>技术资料下载
下载一种成分投影优化分离的高光谱异常探测方法的技术资料
文档序号:22885529
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种成分投影优化分离的高光谱异常探测方法,包括使用基于熵率的超像素分割算法对高光谱图像进行超像素分割;计算每个超像素内所包含像素点的平均值,作为该超像素的光谱向量;计算每个超像素内所包含像素点到光谱向量的马氏距离,求和代表该超像素...
该专利属于武汉大学所有,仅供学习研究参考,未经过武汉大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。