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吸除层的形成方法及硅晶圆技术
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文档序号:22845601
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本发明是一种吸除层的形成方法,于单晶硅晶圆的内部形成吸除层,其中对该单晶硅晶圆进行激光的照射,将该激光的聚光点对准于该单晶硅晶圆的内部,由此将该单晶硅晶圆的内部的预定的区域予以多晶硅化,而形成作为该吸除层的多晶硅层。...
该专利属于信越半导体株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过信越半导体株式会社授权不得商用。
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