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本申请涉及一种用于筛选Wafer中不良Die的测试系统、方法、计算机设备及存储介质，其中该系统包括：测试主机、传输卡、多个测试卡以及探针卡；其中，所述测试主机通过串口与传输卡通讯用于获取每个测试卡上每个测试通道的测试结果；所述传输卡用于给所...
该专利属于深圳忆联信息系统有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳忆联信息系统有限公司授权不得商用。

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