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回复电压初始斜率谱线绘制方法、终端设备及存储介质技术
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文档序号:22754313
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本发明涉及一种回复电压初始斜率谱线绘制方法、终端设备及存储介质,该方法中包括:S1:对变压器进行测试,获取其对应的2N+1组回复电压特征数据;S2:根据获取的2N+1组回复电压特征数据,并利用混沌粒子群算法,计算变压器的扩展德拜等效电路模型...
该专利属于厦门理工学院所有,仅供学习研究参考,未经过厦门理工学院授权不得商用。
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