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本申请提供一种成像设备电磁敏感度测试系统、方法和装置，该系统包括：辐射电场发射系统，用于利用发射天线按照预设测试条件形成辐射电场；图像快视设备，用于根据图像信息利用图像质量评价方法得到敏感判读结果，发送敏感判读结果至主控计算机，其中，图像信...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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