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本发明提供一种屏蔽电缆屏蔽衰减测量方法，包括如下步骤：在同一测量信号通路中提取无屏蔽位置的注入信号电平完成参考测量；提取被测屏蔽电缆位置的注入信号电平完成屏蔽测量；用相同参量和单位的参考测量值和屏蔽测量值进行比较，最终获得被测屏蔽电缆屏蔽衰...
该专利属于北京大泽科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京大泽科技有限公司授权不得商用。

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