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本发明公开了一种晶圆级测试用测试机识别探针卡信息的方法，步骤1、设计制作一块探针卡，在该探针卡中设置一块用于存储探针卡信息的存储芯片；步骤2、使用写入算法向所述存储芯片输入正确的探针卡信息并验证完成；步骤3、使用读出算法识别存储芯片中的探针...
该专利属于上海华力集成电路制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力集成电路制造有限公司授权不得商用。

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