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本实用新型涉及一种用于颗粒物粒径测量的激光测径系统，该激光测径系统包括激光器、分光装置、真空反射装置、基板、第一固定板以及第二固定板；激光器设在基板上，且激光器能够相对于基板移动；分光装置设在第一固定板上，用于将激光器发出的一束激光分成两束...
该专利属于广州禾信仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州禾信仪器股份有限公司授权不得商用。

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