专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
华南理工大学
>
一种基于两步法的超精密圆度测量方法及装置制造方法及图纸
>技术资料下载
下载一种基于两步法的超精密圆度测量方法及装置的技术资料
文档序号:22592865
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种基于两步法的超精密圆度测量方法及装置。为了实施基于两步法的圆度测量,首先根据位移传感器的谐波不确定度及不确定度的传播规律,预测出不同测量角度下圆度测量结果的不确定度,并找出两步法的最优测量角度;其次,操作圆度测量装置,分别在...
该专利属于华南理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过华南理工大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。