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存储设备写错误纠错能力的测试方法、系统及存储介质技术方案
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文档序号:22566758
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本发明提供了存储设备写错误纠错能力的测试方法、系统及存储介质,其中测试方法包括:挑选空白或是被擦除数据的闪存块,并在挑选的闪存块的数据页中写入数据;读取写入数据的闪存块的所有数据页上的数据并保存在缓存中,然后擦除该闪存块中的数据;对被擦除的...
该专利属于至誉科技(武汉)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过至誉科技(武汉)有限公司授权不得商用。
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