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本申请公开了一种晶体材料图像的方法及装置，包括：首先，将获取到的晶体材料图像测试数据集输入到训练完成的Mask R‑CNN网络模型中进行测试，得到预测二值化掩模图像；其中，所述Mask R‑CNN网络模型包括：用于获取晶体材料图像的浅层特征...
该专利属于广东工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过广东工业大学授权不得商用。

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