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本实用新型设计了一种无损测量导电薄膜方块电阻的装置，选用同轴电缆接头，将铝合金材料加工成一个圆环状工件，圆环状工件内径大于同轴电缆接头的外径，并且在圆环状工件外侧车削加工出螺纹，将其固定进同轴电缆接头内部，使他们具有轴对称性，并保证圆环状工...
该专利属于武汉工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉工程大学授权不得商用。

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