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一种半导体激光器综合性能测试系统，包括测试平台、光学模组、设置在测试平台上的功率检测组件、设置在测试平台上的光谱检测机构、及数据处理装置；光学模组包括设置在测试平台上的光学整形透镜、及与光学整形透镜对应的偏振分光器件；功率检测组件包括与偏振...
该专利属于深圳市杰普特光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市杰普特光电股份有限公司授权不得商用。

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