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本发明公开了一种基于机器视觉的LED芯片外观缺陷检测方法及系统，首先采集LED芯片图像；然后对LED芯片图像进行去燥平滑预处理，并进行单颗LED芯片的分割；接着支持向量机分类模型训练；最后利用训练好的支持向量机分类模型检测出外观有缺陷的LE...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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