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本发明公开了一种测试装置及晶片自动测试机，属于晶片测试技术领域。该测试装置包括测试台，还包括载台和转动设于所述载台上的旋转工作台，所述测试台设于所述旋转工作台的上部；所述旋转工作台底部设有调节柱，所述调节柱贯穿所述载台并与所述载台转动连接；...
该专利属于范群意所有，仅供学习研究参考，未经过范群意授权不得商用。

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