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本申请实施例提供一种获取校准系数的方法、装置及校准芯片，获取校准系数的方法包括：将接地的测试治具压合到待校准传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到待校准传感器的治具测量电容值；根据校准函数以及治具测量电容值得到待校准传感器的校准系数；校准函...
该专利属于深圳市汇顶科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市汇顶科技股份有限公司授权不得商用。

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