获取校准系数的方法、装置及校准芯片制造方法及图纸

本申请实施例提供一种获取校准系数的方法、装置及校准芯片，获取校准系数的方法包括：将接地的测试治具压合到待校准传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到待校准传感器的治具测量电容值；根据校准函数以及治具测量电容值得到待校准传感器的校准系数；校准函数用于指示用户在合格传感器上检测得到的电容值和利用测试治具在合格传感器上检测得到的电容值之间的转换关系，校准系数用于对待校准传感器检测的电容值进行校准。使得传感器都能够与合格传感器的佩戴性能保持精确度一致，校准系数更加准确，提高了校准效率。

Method, Device and Calibration Chip for Acquiring Calibration Coefficient

【技术实现步骤摘要】
获取校准系数的方法、装置及校准芯片
本申请实施例涉及传感器
，尤其涉及一种获取校准系数的方法、装置及校准芯片。
技术介绍
电子设备的发展越来越快，为了提高用户体验，用户和机器设备的交互方式更加智能化，例如用户可以是用户，触控操作、智能化检测等，都是通过检测用户与设备的接触实现人机交互。在检测用户与设备接触的方案中，电容式传感器因为安装简便、成本低廉，应用更加广泛。但是，因为用户和电容式传感器接触时，除了用户和电容式传感器内部的敏感元件之间的耦合电容外，敏感元件还存在两个接地点，分别为近地点和远地点，用户和近地点之间的耦合电容，以及用户和远地点之间的耦合电容会影响电容式传感器的检测结果，因此，电容式传感器因为用户和接地点之间的耦合电容与利用测试治具检测的值之间存在误差，存在检测不够准确的缺陷，如果要对电容式传感器进行校准的话，实际量产阶段无法对每个电容式传感器进行大量用户测试获得校准系数，这样会让效率变得过于低下，况且校准系数会随着用户群体的差异而变化，校准系数也不够准确。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例所解决的技术问题之一在于提供一种获取校准系数的方法、校准装置及校准芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种获取校准系数的方法，其特征在于，包括：将接地的测试治具压合到待校准传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述待校准传感器的治具测量电容值；根据校准函数以及所述治具测量电容值得到所述待校准传感器的校准系数；所述校准函数用于指示通过用户压合到合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值和利用接地的测试治具压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值之间的转换关系，所述校准系数对所述待校准传感器检测的电容值进行校准。

【技术特征摘要】
1.一种获取校准系数的方法，其特征在于，包括：将接地的测试治具压合到待校准传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述待校准传感器的治具测量电容值；根据校准函数以及所述治具测量电容值得到所述待校准传感器的校准系数；所述校准函数用于指示通过用户压合到合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值和利用接地的测试治具压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值之间的转换关系，所述校准系数对所述待校准传感器检测的电容值进行校准。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据校准函数以及所述治具测量电容值得到所述待校准传感器的校准系数，包括：将所述治具测量电容值代入所述校准函数计算得到所述待校准传感器的估算电容值；根据所述待校准传感器的估算电容值以及所述合格传感器的用户参考电容值计算得到所述待校准传感器的校准系数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述待校准传感器的估算电容值以及所述合格传感器的用户参考电容值计算得到所述待校准传感器的校准系数，包括：将所述用户参考电容值和所述估算电容值之间的比值作为所述待校准传感器的校准系数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述校准函数预先存储于校准装置中。5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：通过用户压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述合格传感器的用户参考电容值；将接地的测试治具压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述合格传感器的治具参考电容值；根据所述用户参考电容值和所述治具参考电容值得到所述校准函数。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，通过用户压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述合格传感器的用户参考电容值，包括：获取利用至少一个用户在所述合格传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到的至少一个用户测量电容值；计算所述至少一个用户测量电容值的平均值作为所述用户参考电容值。7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述用户参考电容值和所述治具参考电容值得到所述校准函数，包括：将所述用户参考电容值和所述治具参考电容值代入预设公式计算所述预设公式中的预设参数值，所述预设参数值包括接地电容值，所述接地电容值用于指示用户和接地点之间的电容值；将所述预设参数值代入所述预设公式得到所述校准函数。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，将所述用户参考电容值和所述治具参考电容值代入预设公式计算所述预设公式中的预设参数值，包括：利用测试治具产生的电容和接地电容串联的总电容是用户产生的电容的关系，根据所述用户参考电容值和所述治具参考电容值计算得到所述接地电容值。9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，将所述用户参考电容值和所述治具参考电容值代入预设公式计算所述预设公式中的预设参数值，包括：利用测试治具产生的电容、接地电容以及用户和防护层之间的电容串联的总电容是用户产生的电容的关系，且用户和防护层之间的电容不计入用户产生的电容，根据所述用户参考电容值、所述治具参考电容值和所述用户和防护层之间的电容值计算得到所述接地电容值。10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述防护层与敏感元件之间设计面积的比值以及利用测试治具在传感器上进行检测得到的电容值，计算所述用户和防护层之间的电容值。11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述接地电容是用户和远地点之间的远地电容以及用户和近地点之间的近地电容并联的总电容。12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据相同面积下近地电容值与将接地的测试治具压合到传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值的比值、用户与近地点的接触面积和用户与敏感元件的接触面积之间的比值、以及将接地的测试治...

【专利技术属性】
技术研发人员：程树青，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44