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本实用新型涉及一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，包括高低温环境箱，在高低温环境箱上设有开口，在开口处设有使高低温环境箱的实验过程保持密封的密封板，在高低温环境箱内设有测试产品和用于夹持固定SD卡或USB的插头的插头夹持机构；插头...
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