一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，包括高低温环境箱，在高低温环境箱上设有开口，在开口处设有使高低温环境箱的实验过程保持密封的密封板，在高低温环境箱内设有测试产品和用于夹持固定SD卡或USB的插头的插头夹持机构；插头夹持机构穿过密封板与设置在高低温环境箱外的驱动机构连接，在插头夹持机构和驱动机构之间设有用于反馈插头夹持机构的插入力度的检测机构。本实用新型专利技术通过采用硬件和软件相结合的技术方案在高低温环境箱内完成SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试工作，且力度的控制很好地模拟了人工的操作，提高了高低温环境耐久测试的有效性，通过上位机监控和操作测试产品，做到实时监控和精确的操作，保证试验质量。

A Durability Testing Device for SD Card or USB High and Low Temperature Automatic Plug-in

【技术实现步骤摘要】
一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备
本技术涉及测试
，尤其是涉及一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备。
技术介绍
凡是带SD卡和USB接口的汽车音响和导航产品都需要做长周期的高低温拔插寿命试验，并且试验过程需要监控产品的输出状态以确保拔插寿命试验的有效性。现有技术中，以上试验需是用气缸杆执行达到操作，无法做到实时力监控和精确的操作，无法在高温80°低温-30°环境动作，无法保证试验质量。为了保证车载音响和导航产品的试验质量，设计一种针对汽车音响和导航产品高低温SD卡和USB接口的自动拔插耐久设备。
技术实现思路
本技术为克服上述现有技术所述的不足，提供一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备。为解决上述技术问题，本技术的技术方案如下：一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，包括高低温环境箱，在所述高低温环境箱上设有开口，在所述开口处设有使高低温环境箱的实验过程保持密封的密封板，在所述高低温环境箱内设有用于固定测试产品的固定架和用于夹持固定所述SD卡或USB的插头的插头夹持机构，所述插头夹持机构与所述测试产品上的SD卡接口或USB接口相对应设置；所述插头夹本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，其特征在于，包括高低温环境箱（1），在所述高低温环境箱（1）上设有开口（11），在所述开口（11）处设有使高低温环境箱（1）的实验过程保持密封的密封板（12），在所述高低温环境箱（1）内设有用于固定测试产品（211）的固定架（13）和用于夹持固定所述SD卡或USB的插头（212）的插头夹持机构（21），所述插头夹持机构（21）与所述测试产品（211）上的SD卡接口或USB接口相对应设置；所述插头夹持机构（21）穿过所述密封板（12）与设置在所述高低温环境箱（1）外用于驱动所述插头夹持机构（21）带动所述SD卡或USB的插头（212）完成拔插动作...

【技术特征摘要】
1.一种SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，其特征在于，包括高低温环境箱（1），在所述高低温环境箱（1）上设有开口（11），在所述开口（11）处设有使高低温环境箱（1）的实验过程保持密封的密封板（12），在所述高低温环境箱（1）内设有用于固定测试产品（211）的固定架（13）和用于夹持固定所述SD卡或USB的插头（212）的插头夹持机构（21），所述插头夹持机构（21）与所述测试产品（211）上的SD卡接口或USB接口相对应设置；所述插头夹持机构（21）穿过所述密封板（12）与设置在所述高低温环境箱（1）外用于驱动所述插头夹持机构（21）带动所述SD卡或USB的插头（212）完成拔插动作的驱动机构（22）连接，在所述插头夹持机构（21）和驱动机构（22）之间设有用于反馈插头夹持机构（21）的插入力度的检测机构（23）。2.根据权利要求1所述的SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，其特征在于，所述高低温环境箱（1）包括箱体、设置在所述箱体内的加热装置（16）和制冷装置（14）以及设置在所述箱体外与所述加热装置（16）和制冷装置（14）连接控制所述箱体内温度的第一显示控制机构（15）。3.根据权利要求1所述的SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，其特征在于，所述固定架（13）固定安装在所述密封板（12）上。4.根据权利要求1所述的SD卡或USB高低温自动拔插耐久测试设备，其特征在于，还包括与所述检测机构（23）通讯连接的第二显示控制机构（24），所述第二显示控制机构（24）用于采集所述检测机构（23）检测的...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹升高，林少鹏，黄新康，张林博，
申请(专利权)人：惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44