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提供了用于检查集成电路的方法和系统，包括：生成每个都包括至少一个潜在缺陷的关注区域；基于第一组空间关系来组织所生成的所述关注区域，以提供相邻关注区域的列表，其中所述相邻关注区域中的每个都是所述列表内的条目；和生成所述列表的配置方案文件，其中...
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