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具有双厚度势垒层的高电子迁移率晶体管制造技术
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下载具有双厚度势垒层的高电子迁移率晶体管的技术资料
文档序号:22103682
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一种形成半导体器件的方法包括提供异质结半导体本体。异质结半导体本体包括第一III‑V型半导体层和形成在第一III‑V型半导体层之上的第二III‑V型半导体层。第二III‑V型半导体层具有与第一III‑V型半导体层不同的带隙,使得第一二维电荷...
该专利属于英飞凌科技奥地利有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过英飞凌科技奥地利有限公司授权不得商用。
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