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本发明揭露一种用于决定具有数个记忆单元的非挥发性内存中位值的方法与系统，其中每一个记忆单元用于储存一个位值。所述方法包含步骤：提供首次测试传感电压至所述些记忆单元并计算单元计数；提供另一个个测试传感电压至所述些记忆单元并计算本步骤与前步骤间...
该专利属于深圳衡宇芯片科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳衡宇芯片科技有限公司授权不得商用。

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