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本发明公开了一种适用于继电器抗跌落性能测试的试验系统及方法，所述试验系统包括电磁铁、撞针、框架、继电器夹具、高速摄像机、力传感器，其中：所述电磁铁固定在框架的上端；所述电磁铁的下端设置有撞针；所述撞针的下方设置有继电器夹具；所述继电器夹具固...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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