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光学式瑕疵检测系统技术方案
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文档序号:22070897
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本实用新型提供一种光学式瑕疵检测系统,包含至少一平台,用以承载多个待检测物;一上料摆放系统,将多个待检测物一次性摆放至该平台;一影像拍摄系统,依序拍摄该等待检测物的多个检测影像;一处理单元,接收该等检测影像,以检测出该等待检测物的检测结果;...
该专利属于联策科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联策科技股份有限公司授权不得商用。
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