【技术实现步骤摘要】
光学式瑕疵检测系统
本技术涉及一种光学式瑕疵检测系统，更明确地说明，本技术是一种包含一下料摆放系统的光学式瑕疵检测系统，该下料摆放系统依多个待检测物的疵检检测结果，可从检测平台一次性拾起该等待检测物且分类地将该等待检测物一次性摆放至一下料区。
技术介绍
如图1、2所示，分别显示公知光学式瑕疵检测系统的系统架构图与系统方块图。公知光学式瑕疵检测系统包含一影像拍摄系统10，分别从平台L2、平台R3所承载的待检测物L5与待检测物R6拍摄检测影像，其中该平台L2、平台R3可分别被平台驱动机构4驱动在一往复方向上运动。该影像拍摄系统10包括：一具有镜头12的相机11，该相机11定义一光路用以拍摄待检测物L5与待检测物R6。该待检测物1以电路板为例，在其上可分布多个零件或其布线。此外，该影像拍摄系统10配置各种辅助光源与光学零件，用以让待检测物L5与待检测物R6的瑕疵与缺陷可以显现于检测影像。这些辅助光源与光学零件包含：一偏光镜13，配置于该相机11的光路以滤掉杂散光源；一分光镜14，配置于该相机1的光路；一正光源15，搭配该分光镜14以提供该待检测物的正光源供相机11拍摄取...
【技术保护点】
1.一种光学式瑕疵检测系统，包含：至少一平台，用以承载多个待检测物；一上料摆放系统，将多个待检测物一次性摆放至该平台；一影像拍摄系统，依序拍摄该等待检测物的多个检测影像；一处理单元，接收该等检测影像，以检测出该等待检测物的检测结果；以及一下料摆放系统，从该平台一次性拾起该等待检测物，以摆放至一下料区；其特征在于：该下料区包含多个区域，该等区域的相邻排列包含该等待检测物的所有检测结果的组合，该处理单元根据该等待检测物的检测结果，以控制该下料摆放系统将拾起的该等待检测物移动对应至多个目标区域，而该等目标区域的相邻排列相应于该等待检测物的检测结果，使该下料摆放系统将该等待检测物一...
【技术特征摘要】
1.一种光学式瑕疵检测系统，包含：至少一平台，用以承载多个待检测物；一上料摆放系统，将多个待检测物一次性摆放至该平台；一影像拍摄系统，依序拍摄该等待检测物的多个检测影像；一处理单元，接收该等检测影像，以检测出该等待检测物的检测结果；以及一下料摆放系统，从该平台一次性拾起该等待检测物，以摆放至一下料区；其特征在于：该下料区包含多个区域，该等区域的相邻排列包含该等待检测物的所有检测结果的组合，该处理单元根据该等待检测物的检测结果，以控制该下料摆放系统将拾起的该等待检测物移动对应至多个目标区域，而该等目标区域的相邻排列相应于该等待检测物的检测结果，使该下料摆放系统将该等待检测物一次性摆放至该等目标区域。2.如权利要求1所述的光学式瑕疵检测系统，其特征在于，该检测结果包含OK件，以表示该待检测物无瑕疵；以及NG件，以表示该待检测物存在瑕疵。3.如权利要求2所述的光学式瑕疵检测系统，其特征在于，该平台承载2个待检测物，则该等区域的相邻排列为选自以下排列之一：OK区、OK区、NG区、NG区、OK区，NG区、NG区、OK区、OK区、NG区，NG区、OK区、OK区、NG区、NG区以及OK区、NG区、NG区、OK区、OK区，其中该OK区用以摆放OK件，该NG区用以摆放NG件。4.如权利要求2所述的光学式瑕疵检测系统，其特征在于，该平台承载2个待检测物，则该处理单元检测出2个待检测物的所有检测结果的组合包含：OK件、OK件，NG件、NG件，OK件、NG件以及NG件、OK件。5.如权利要求2所述的光学式瑕疵检测系统，其特征在于，该平台承载2个待检测物，则该2个目标区域的相邻排列包含：OK区、OK区，NG区、NG区，...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈文生，李彦志，杞美瑜，
申请(专利权)人：联策科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾,71
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