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一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备制造技术
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下载一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备的技术资料
文档序号:22031329
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本实用新型提供了一种基于PIC设计的充电控制模块串联老化设备,包括待测模块和连接于所述待测模块的MCU模块,所述待测模块的输入端通过电磁继电器和控制开关连接于供电电源,所述电磁继电器连接于所述MCU模块,所述待测模块的输出端连接有负载模块,...
该专利属于杭州可明电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州可明电子科技有限公司授权不得商用。
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