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本发明提供了一种集成芯片及其测试方法，涉及集成芯片技术领域，该集成芯片包括：低速通用接口、eFPGA电路和至少一个功能电路；低速通用接口与eFPGA电路相连，且eFPGA电路与每个功能电路均相连；低速通用接口用于接收外接的智能终端发送的测试...该专利属于天津市滨海新区信息技术创新中心;天津芯海创科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津市滨海新区信息技术创新中心;天津芯海创科技有限公司授权不得商用。