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本发明公开了一种介面金属共化物的覆盖率检测方法,所述介面金属共化物的覆盖率检测方法包括以下步骤:将引线键合后的芯片放入发烟硝酸和发烟硫酸的混合试剂中浸泡,其中,所述引线键合后的芯片中包括银制引线和铝制焊盘;在所述银制引线去除后,取出所述芯片...该专利属于青岛歌尔微电子研究院有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过青岛歌尔微电子研究院有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种介面金属共化物的覆盖率检测方法,所述介面金属共化物的覆盖率检测方法包括以下步骤:将引线键合后的芯片放入发烟硝酸和发烟硫酸的混合试剂中浸泡,其中,所述引线键合后的芯片中包括银制引线和铝制焊盘;在所述银制引线去除后,取出所述芯片...