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基于多角度测量的弥散介质光学参数场探测装置及方法，属于频域近红外光学成像技术领域，为解决现有技术中光学参数场重建时仅用一次调频激光入射得到探测信号进行重建，其所得的结果存在病态及串扰严重的问题，包括：激光控制器、激光头、CCD相机和数据采集...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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