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3D芯片系统中的电压下降缓解技术方案
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文档序号:21832137
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本发明涉及一种多芯片系统以及一种用于在3D堆叠芯片系统中调度线程的方法。该多芯片系统包括垂直堆叠的、电耦合在一起的多个芯片;所述多个芯片中的每个芯片包括一个或多个核,所述多个芯片中的每个芯片进一步包括:至少一个电压违限感测单元,该至少一个电...
该专利属于超威半导体公司所有,仅供学习研究参考,未经过超威半导体公司授权不得商用。
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