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半导体装置、半导体装置的制造方法以及设备制造方法及图纸
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文档序号:21801903
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本申请涉及半导体装置、半导体装置的制造方法以及设备。一种制造半导体装置的方法,包括在具有第一面和第二面的半导体基板的第一面的一侧形成第一沟槽,通过经由第一沟槽在半导体基板中注入离子形成吸杂区域,以及在形成吸杂区域之后,在半导体基板的第一面的...
该专利属于佳能株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过佳能株式会社授权不得商用。
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