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本实用新型公开了一种晶元测试探针包括：所述测试探针的一端为弧面，另一端为多角状；晶元通过所述测试探针与印制电路板进行通讯连接；所述测试探针的弧面端与所述晶元进行接触连接；所述测试探针的多角状端与所述印制电路板进行接触连接。...
该专利属于上海泽丰半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海泽丰半导体科技有限公司授权不得商用。

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