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一种测试头(20)，适合于校验集成在半导体晶片上的待测试器件的操作，包括至少一个引导件(40，41，42)，所述至少一个引导件(40，41，42)设有适合于容纳多个接触元件(21’，21”，21”’)的多个引导孔(40h，41h，42h)，...
该专利属于泰克诺探头公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克诺探头公司授权不得商用。

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