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一种用于探测半导体材料X射线性能的装置制造方法及图纸
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下载一种用于探测半导体材料X射线性能的装置的技术资料
文档序号:21711935
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本发明公开了一种用于探测半导体材料X射线性能的装置,该装置包括暗箱和静电计,暗箱内设有电磁屏蔽盒,电磁屏蔽盒上方设有开口,开口上方设有X射线光源,电磁屏蔽盒内设有PCB板,PCB板上设有第一导电胶、第二导电胶、第一针脚和第二针脚,第一导电胶...
该专利属于苏州大学所有,仅供学习研究参考,未经过苏州大学授权不得商用。
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