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本实用新型公开了一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备，包括操作台，所述操作台上通过支架设置有顶板，所述顶板上设置有第一电机，所述第一电机上设置有驱动轴，所述驱动轴的下端设置有支撑板，所述支撑板上设置有限位槽，所述限位槽的内壁上滑动...
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