一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备，包括操作台，所述操作台上通过支架设置有顶板，所述顶板上设置有第一电机，所述第一电机上设置有驱动轴，所述驱动轴的下端设置有支撑板，所述支撑板上设置有限位槽，所述限位槽的内壁上滑动连接有限位块，所述支撑板的下端设置有第二电机，所述第二电机上设置有螺纹杆。该用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备，通过置物板能够摆放产品，并保证产品的固定，通过摄像头的横向移动以及转动，能够对不规则的物体的轮廓边缘进行拍摄，通过扣线块部分能够对摄像头的数据线进行挑起，防止其在移动时出现下垂而影响测量过程的情况。

A Non-contact Optical Measuring Equipment for Measuring the Size of Magnetic Head Support

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备
本技术涉及磁头支架测量
，具体为一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备。
技术介绍
非接触式光学测量仪，不仅可以对准目标影像,还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量，还具有明暗场，微分干涉，金相，偏光等多种观察功能。一般的非接触式光学测量仪，在测量不规则产品时，需要通过人工调整产品的位置，这样容易导致产品的位移，从而造成测量的误差，大大降低了检测的质量。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备，以解决产品调整位置带来的测量误差。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备，包括操作台，所述操作台上通过支架设置有顶板，所述顶板上设置有第一电机，所述第一电机上设置有驱动轴，所述驱动轴的下端设置有支撑板，所述支撑板上设置有限位槽，所述限位槽的内壁上滑动连接有限位块，所述支撑板的下端设置有第二电机，所述第二电机上设置有螺纹杆，所述支撑板上设置有轴座，所述螺纹杆的另一端设置在轴座上，所述螺纹杆的表面设置有滑块，所述滑块上设置有螺纹套，所述螺本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备，包括操作台(1)，其特征在于：所述操作台(1)上通过支架设置有顶板(11)，所述顶板(11)上设置有第一电机(12)，所述第一电机(12)上设置有驱动轴(13)，所述驱动轴(13)的下端设置有支撑板(14)，所述支撑板(14)上设置有限位槽(15)，所述限位槽(15)的内壁上滑动连接有限位块(16)，所述支撑板(14)的下端设置有第二电机(17)，所述第二电机(17)上设置有螺纹杆(18)，所述支撑板(14)上设置有轴座(19)，所述螺纹杆(18)的另一端设置在轴座(19)上，所述螺纹杆(18)的表面设置有滑块(110)，所述滑块(110)上...

【技术特征摘要】
1.一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备，包括操作台(1)，其特征在于：所述操作台(1)上通过支架设置有顶板(11)，所述顶板(11)上设置有第一电机(12)，所述第一电机(12)上设置有驱动轴(13)，所述驱动轴(13)的下端设置有支撑板(14)，所述支撑板(14)上设置有限位槽(15)，所述限位槽(15)的内壁上滑动连接有限位块(16)，所述支撑板(14)的下端设置有第二电机(17)，所述第二电机(17)上设置有螺纹杆(18)，所述支撑板(14)上设置有轴座(19)，所述螺纹杆(18)的另一端设置在轴座(19)上，所述螺纹杆(18)的表面设置有滑块(110)，所述滑块(110)上设置有螺纹套(111)，所述螺纹套(111)螺纹连接螺纹杆(18)。2.根据权利要求1所述的一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备，其特征在于：所述滑块(110)的下端设置有安装座(2)，安装座(2)上设置有通线孔(21)，安装座(2)的内壁滑动插入有摄像头(22)，安装座(2)上设置有螺纹孔(23)，螺纹孔(23)的孔内螺纹连接有螺纹旋...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁志吉，
申请(专利权)人：全南群英达电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江西,36